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AI智慧檢測搶攻半導體!倍利科推新一代AOI方案 毫秒級檢測、過殺率降至5%以下

AI智慧檢測搶攻半導體!倍利科推新一代AOI方案 毫秒級檢測、過殺率降至5%以下

요약

[FTNN新聞網]記者黃詩雯/綜合報導AI應用加速導入製造業,智慧檢測需求也跟著升溫。倍利科(7822)鎖定半導體封測及高階電子零組件市場,推出新一代工業級AI...

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[FTNN新聞網]記者黃詩雯/綜合報導

AI應用加速導入製造業,智慧檢測需求也跟著升溫。倍利科(7822)鎖定半導體封測及高階電子零組件市場,推出新一代工業級AI智慧檢測方案,結合深度學習與先進光學檢測(AOI)技術,進一步提升產線檢測效率與精準度。

倍利科鎖定半導體封測及高階電子零組件市場。(示意圖/pexels)
倍利科鎖定半導體封測及高階電子零組件市場。(示意圖/pexels)

倍利科長期布局機器視覺及AI演算法,此次升級主要瞄準微縮晶片封裝瑕疵、精密元件微裂縫等高難度缺陷。透過自主開發的輕量化神經網路架構,在維持毫秒級檢測速度的同時,過殺率(Overkill)可降至5%以下,有助客戶提升良率並降低人工複檢成本。

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法人指出,隨AI與高速運算快速發展,半導體製程日益複雜,對檢測精度的要求同步提高,傳統規則型檢測方式逐漸面臨限制。

倍利科則透過軟硬體整合,提供具即時運算、高彈性且容易導入的自動化檢測系統,持續拓展半導體及高階製造應用。

◎《FTNN新聞網》提醒您:本資料僅供參考,投資人應獨立判斷,審慎評估並自負投資風險。

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